20120001_0089

© IEMN/CNRS Images

Reference

20120001_0089

Vue de profil, en microscopie électronique à balayage (MEB), de la partie supérieure de micropiliers

Vue de profil, en microscopie électronique à balayage (MEB), de la partie supérieure de micropiliers de silicium obtenus en usinant un substrat de silicium par un procédé de gravure profonde. La face plane supérieure montre une tache brillante, qui correspond à une goutte d'or. La rugosité observée sur les côtes des micropiliers provient de l'alternance de cycles d'attaque et de passivation du silicium.

CNRS Institute(s)

Regional office(s)

Scientific topics

CNRS Images,

Our work is guided by the way scientists question the world around them and we translate their research into images to help people to understand the world better and to awaken their curiosity and wonderment.