Zoom sur une partie d'un banc de caractérisation électrique et la carte test équipée de ses sondes de mesure

Zoom sur une partie d'un banc de caractérisation électrique et la carte test "plug and play" équipée de ses sondes de mesure. Cette carte comprend un composant de puissance et sa commande rapprochée. Ce banc permet de caractériser électriquement des composants à grand gap (WBG), en régime extrême de fonctionnement et circuit intégré de commande rapprochée (gate-driver) associé. L'objectif est d'étudier la robustesse en court-circuit de composants de puissance au carbure de silicium SiC (1200 V – 1700 V / 90 A) et au nitrure de gallium GaN (650 V / 50 A).