Voir le reportage
20160094_0052
© Denis MOREL/G2Elab/CNRS Photothèque

Ouverture d'une station sous pointes pour la caractérisation de composants électroniques

Référence

20160094_0052

Année de production

2016

Taille maximale

42.33 x 28.18 cm / 300 dpi

Légende

Ouverture d'une station sous pointes pour la caractérisation de composants électroniques sur wafer (encore sur plaque de silicium). Elle permet d’appliquer, grâce à 5 pointes électriques et une pointe optique, différents stimuli à l’échantillon en cours de test. La capacité à conduire le courant, la tenue en tension, les capacités parasites, les courants de fuites et les paramètres thermosensibles sont les principales mesures réalisées sur les échantillons. La station offre une grande dynamique sur la température avec la possibilité d’effectuer des caractérisations de -200 °C à +400 °C sous un vide secondaire. Elle est associée à un traceur électronique, ce qui permet d’appliquer à l’échantillon en cours de test, des tensions de plus de 3 000 volts ou des courants d’une vingtaine d’ampères.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.