20130001_1131

© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Référence

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Microscope à force atomique (AFM) sous ultravide, installée au Pico-Lab au CEMES

A gauche : transfert d'un échantillon entre le tunnel de transfert et le microscope à force atomique (AFM) sous ultravide. Ce microscope est intégré à l'usine sous ultravide (DUF) installée dans une salle blanche du bâtiment Pico-Lab au CEMES (Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales), consacré aux picotechnologies. A droite : mise en place d'un échantillon, un transistor pour la microélectronique, dans le microscope électronique en transmission I2TEM (In situ interferometry transmission electron microscope) du CEMES. Il s'agit d'un microscope cohérent à émission de champ froide, unique car dédié à l'interférométrie électronique, la microscopie de Lorentz et les expériences in situ.

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