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20130001_0175
© Cyril FRESILLON/CNRS Photothèque

Un porte-échantillon est mis en place dans un diffractomètre à rayons X

Référence

20130001_0175

Année de production

2013

Taille maximale

41.72 x 27.77 cm / 300 dpi

Légende

Un porte-échantillon est mis en place dans un diffractomètre à rayons X pour l'analyse de la structure cristallographique et de la composition chimique de l'échantillon. Ce diffractomètre est équipé d'un détecteur rapide et d'un passeur d'échantillons à 9 positions. L'objectif est de caractériser des alliages et des composés intermétalliques pour le stockage réversible chimique ou électrochimique de l'hydrogène.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

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