Année de production
1997
© Claude DELHAYE/CNRS Images
Référence
19970001_0490
Caractérisation par diffraction RX de poudres de matériaux oxynitrures conduisant à des matériaux à
Caractérisation par diffraction RX de poudres de matériaux oxynitrures conduisant à des matériaux à propriétés physiques particulières (capteurs, diélectriques...)
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