19970001_0490

© Claude DELHAYE/CNRS Images

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19970001_0490

Caractérisation par diffraction RX de poudres de matériaux oxynitrures conduisant à des matériaux à

Caractérisation par diffraction RX de poudres de matériaux oxynitrures conduisant à des matériaux à propriétés physiques particulières (capteurs, diélectriques...)

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