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20220104_0031
© Jean-Claude MOSCHETTI / IETR / CNRS Photothèque

Tests électriques sous pointes de dispositifs électroniques flexibles

Reference

20220104_0031

Production year

2022

Max. size

59.99 x 40 cm / 300 dpi

Caption

Les dispositifs électroniques intégrés nécessitent d’être testés à différentes étapes de fabrication pour qualifier leur comportement électrique. Des stations de tests électriques sont utilisées à cet effet. Elles sont généralement constituées d’un analyseur de paramètres permettant de polariser électriquement les dispositifs et d’en acquérir les grandeurs caractéristiques tels que le courant, la tension, etc. Ces dispositifs sont généralement de taille microscopique nécessitant l’emploi de pointes présentant une extrémité très fine (une centaine de micromètres) pour appliquer le stress électrique. Ces pointes sont positionnées par des vis micrométriques sous microscope. Ici, les pointes sont positionnées afin de tester des transistors réalisés sur substrat flexible, lui-même laminé sur un substrat rigide lors de la fabrication. Une fois le comportement électronique validé, le substrat flexible sera désolidarisé du substrat rigide, pour étudier le comportement électrique des transistors en fonction d’un stress mécanique, c'est-à-dire de tests en flexion.

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