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Reference
20210158_0027
Analyse des résultats et des formes d'ondes de la carte test connectée à un banc de caractérisation électrique
Analyse sur un oscilloscope des résultats et des formes d'ondes de la carte test "plug and play" connectée à un banc de caractérisation électrique. Ce banc permet de caractériser électriquement des composants à grand gap (WBG), en régime extrême de fonctionnement et circuit intégré de commande rapprochée (gate-driver) associé. L'objectif est d'étudier la robustesse en court-circuit de composants de puissance au carbure de silicium SiC (1200 V – 1700 V / 90 A) et au nitrure de gallium GaN (650 V / 50 A).
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