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20160056_0045

© Cyril FRESILLON/UMSCastaing/CNRS Images

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Echantillon préparé à l'aide d'un polisseur ionique pour de la microscopie électronique à balayage

Echantillon préparé à l'aide d'un polisseur ionique. Il sera ensuite analysé par microscopie électronique à balayage (MEB).

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