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Reference
20160056_0010
Vue de l'intérieur d'un faisceau ionique focalisé (FIB)
Vue de l’intérieur d'un faisceau ionique focalisé (FIB). Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Ainsi, il rend possible l'observation de la matière, l’usinage et la création de structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.
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