Retour au reportage Retour au reportage
20160056_0001

© Cyril FRESILLON/UMSCastaing/CNRS Images

Reference

20160056_0001

Vue d'ensemble d'un microscope à double colonne (Dual-Beam)

Vue d'ensemble d'un microscope à double colonne (Dual-Beam) combinant un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

CNRS Institute(s)

Regional office(s)

Scientific topics

CNRS Images,

Our work is guided by the way scientists question the world around them and we translate their research into images to help people to understand the world better and to awaken their curiosity and wonderment.