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Reference
20120001_0091
Image de synthèse de la plateforme d'un microscope à effet tunnel à pointes multiples, dont l'échant
Image de synthèse de la plateforme d'un microscope à effet tunnel à pointes multiples, dont l'échantillon à caractériser est irradié sous le faisceau électronique émis par la colonne d'un microscope électronique à balayage. Chacune des quatre pointes repose sur un tube piézoélectrique qui est l'origine du positionnement contrôlé des pointes sur l'échantillon.
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