
© Emmanuel PERRIN/LAAS/CNRS Photothèque
Mesures sous pointes de composants passifs intégrés sur silicium pour la conversion d'énergie. Ici l
Reference
20090001_0496
Production year
2009
Max. size
24.11 x 36.31 cm / 300 dpi
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Mesures sous pointes de composants passifs intégrés sur silicium pour la conversion d'énergie. Ici les caractéristiques de condensateurs à forte densité sont mesurées directement en sortie de fabrication, sur la plaquette, avant la mise en boîtier des composants. L'objectif est de produire des nouvelles familles de convertisseurs de puissance miniaturisés avec tous les composants (transistors, condensateurs, bobines) sur le même substrat. Ces convertisseurs sont utilisés entre autres pour gérer la puissance nécessaire aux diverses fonctionnalités des appareils de l'électronique nomade.