Production year
2006
© François JANNIN/CNRS Images
Reference
20070001_0124
Vue de côté d'un porte-échantillon, utilisé pour des mesures de résistivité. L'objectif est la carac
Vue de côté d'un porte-échantillon, utilisé pour des mesures de résistivité. L'objectif est la caractérisation de propriétés de transport électrique.
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