20070001_0124
© François JANNIN/CNRS Photothèque

Vue de côté d'un porte-échantillon, utilisé pour des mesures de résistivité. L'objectif est la carac

Reference

20070001_0124

Production year

2006

Max. size

36.31 x 24.11 cm / 300 dpi

Caption

Vue de côté d'un porte-échantillon, utilisé pour des mesures de résistivité. L'objectif est la caractérisation de propriétés de transport électrique.

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