Caption
Vue de côté d'un porte-échantillon, utilisé pour des mesures de résistivité. L'objectif est la caractérisation de propriétés de transport électrique.
© François JANNIN/CNRS Photothèque
Vue de côté d'un porte-échantillon, utilisé pour des mesures de résistivité. L'objectif est la carac
Reference
20070001_0124
Production year
2006
Max. size
36.31 x 24.11 cm / 300 dpi
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