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Référence
20180015_0002
Mise en place d'une demi-grille en cuivre dans un microscope MEB-FIB
Mise en place d'une demi-grille en cuivre dans un microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (MEB-FIB). Cet équipement combine une colonne électronique pour imager l'échantillon pendant l'usinage et une colonne ionique à faisceau d'ions focalisés (FIB). Cette demi-grille est utilisée dans la préparation des lames minces pour la microscopie électronique en transmission (MET).
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