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20170023_0046

© Cyril FRESILLON / UMPhy CNRS-Thales / CNRS Images

Référence

20170023_0046

Enceinte de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs

Bruno Marcilhac à côté d'une enceinte de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs dits à haute température critique. Ces composants servent pour le traitement du signal hyperfréquence.

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