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Référence
20170023_0044
Démonstrateur 100 fois plus petit que l'enceinte de caractérisation située derrière
Démonstrateur 100 fois plus petit, reproduisant à plus petite échelle les caractéristiques de l'enceinte située derrière. Il démontre la capacité à intégrer les fonctions de traitement du signal réalisées par des composants supraconducteurs dans un volume faible.
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