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20150050_0032
© Cyril FRESILLON / LPCNO / CNRS Photothèque

Mise en place d'un échantillon sur le porte substrat d'un microscope à force atomique

Référence

20150050_0032

Année de production

2015

Taille maximale

41.72 x 27.77 cm / 300 dpi

Légende

Mise en place d'un échantillon sur le porte substrat d'un microscope à force atomique (AFM).

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

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