Année de production
2011
© Cyril FRESILLON/CNRS Images
Référence
20110001_1267
Intérieur de la chambre d'analyse d'un spectromètre XPS (spectroscopie de photoélectrons induits par
Intérieur de la chambre d'analyse d'un spectromètre XPS (spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X). Ce spectromètre est utilisé pour l'analyse de surfaces. Le transfert vers la chambre d'analyse sous ultravide permet l'introduction de matériaux solides, pour les analyses élémentaire et chimique de leur composition de surface.
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