Voir le reportage
20110001_0901
© Cyril FRESILLON/CNRS Photothèque

Pointe d'un microscope à force atomique (AFM). Cette pointe est constituée d'un levier (pièce métall

Référence

20110001_0901

Année de production

2011

Taille maximale

36.31 x 24.11 cm / 300 dpi

Légende

Pointe d'un microscope à force atomique (AFM). Cette pointe est constituée d'un levier (pièce métallique grise appelée habituellement "cantilever") qui vibre imperceptiblement à proximité de la surface à étudier. Le levier est terminé par une très fine pointe en silicium qui interagit avec les reliefs de la surface (de l'ordre du µm²) et permet d'en mesurer une cartographie après un balayage.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Institut des NanoSciences de Paris 3

CNRS Images,

Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.