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Référence
20110001_0900
Tête de mesure d'un microscope à force atomique (AFM) capable de repérer et caractériser des nanopar
Tête de mesure d'un microscope à force atomique (AFM) capable de repérer et caractériser des nanoparticules d'or d'une dizaine de nanomètres de diamètre déposées sur un substrat de silicium. Le chercheur est en train de changer la pointe de l'AFM. La qualité de cette pointe conditionne la finesse des détails qui peuvent être observés.
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