© Pierre GRECH/Pascal FALGAYRETTES/CNRS Images
Référence
20110001_0857
Vue de dessus au microscope électronique à balayage de la pointe d'une sonde SNOM (microscope optiqu
Vue de dessus au microscope électronique à balayage de la pointe d'une sonde SNOM (microscope optique en champ proche) en matériau organo-minéral sol-gel obtenue par moulage. L'objectif est de développer de nouvelles sondes pour la microscopie de champ proche optique, pour l'inspection de surface à haute résolution spatiale. Les applications visées concernent la biologie, l'ADN, l'ARN.
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