© Cyrile DERANLOT/CNRS Images
Référence
20030001_0992
Cristallites de gallate de zinc (ZnGa2O4) observés par microscopie à force atomique (AFM), en mode i
Cristallites de gallate de zinc (ZnGa2O4) observés par microscopie à force atomique (AFM), en mode intermittent, sur une matrice amorphe des trois éléments. Image (2.5µm x 2.5µm). Z Range (échelle en hauteur d'une image de microscopie à champ proche) = 300nm. Ces recherches portent sur l'étude des matériaux transparents et conducteurs en vue d'applications pour des cellules photoélectriques.
Ajouter à ma sélection
Conditions d'utilisation
L’utilisation des médias visibles sur la Plateforme CNRS Images peut être accordée sur demande. Toute reproduction ou représentation est interdite sans l'autorisation préalable de CNRS Images (sauf pour les ressources sous licence Creative Commons).
Aucune modification d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Aucune utilisation à des fins publicitaires ou diffusion à un tiers d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Pour plus de précisions consulter Nos conditions générales
