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Tests sous pointes de circuits intégrés au LEPSI (Réf. Le Journal du CNRS Juillet-Août 2000).
© Richard LAMOUREUX/CNRS Images
Tests sous pointes de circuits intégrés au LEPSI (Réf. Le Journal du CNRS Juillet-Août 2000).
Référence
20000001_1093
Année de production
2000
Taille maximale
28.19 x 19.47 cm / 300 dpi
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