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Caractérisation électrique sur tranche en régime statique et en bruit basse fréquence de transistors micro-ondes.
© Laurence MEDARD/CNRS Images
Caractérisation électrique sur tranche en régime statique et en bruit basse fréquence de transistors
Référence
19970001_0298
Année de production
1997
Taille maximale
19.47 x 29.51 cm / 300 dpi
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