Année de production
2009
© Emmanuel PERRIN/Univ.Nice-Sophia Antipolis/LEAT/CREMANT/CNRS Images
Référence
20090001_0180
Banc de test sous pointes de composants, puces et circuits microélectroniques. Conception de circuit
Banc de test sous pointes de composants, puces et circuits microélectroniques. Conception de circuits intégrés pour les communications sans fil.
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