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20180015_0008

© Hubert RAGUET / IJL / CNRS Images

Reference

20180015_0008

Observation d'un échantillon au poste de travail du microscope électronique en transmission

Observation d'un acier sur le poste de travail d'un microscope électronique en transmission (MET, JEOL ACCEL ARM200F). Cette technique d'analyse permet d'obtenir des informations sur la morphologie, la structure cristallographique et la composition chimique de l'échantillon jusqu'à l'échelle atomique.

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