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20180015_0008
© Hubert RAGUET / IJL / CNRS Images

Observation d'un échantillon au poste de travail du microscope électronique en transmission

Reference

20180015_0008

Production year

2018

Max. size

33.91 x 50.8 cm / 300 dpi

Caption

Observation d'un acier sur le poste de travail d'un microscope électronique en transmission (MET, JEOL ACCEL ARM200F). Cette technique d'analyse permet d'obtenir des informations sur la morphologie, la structure cristallographique et la composition chimique de l'échantillon jusqu'à l'échelle atomique.

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