Production year
2011
© Cyril FRESILLON/CNRS Images
Reference
20110001_1265
Vue de l'équipement LEIS (spectroscopie de rétrodiffusion d'ions lents) couplé aux spectromètres ToF
Vue de l'équipement LEIS (spectroscopie de rétrodiffusion d'ions lents) couplé aux spectromètres ToF-SIMS (spectrométre de masse d'ions secondaires à temps de vol) et XPS (spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X). Cet équipement est utilisé pour l'analyse de surfaces.
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