L'url de cette page a bien été copiée dans votre presse-papier!
Reference
20110001_0899
Tête de mesure d'un microscope à force atomique (AFM) capable de repérer et caractériser des nanopar
Tête de mesure d'un microscope à force atomique (AFM) capable de repérer et caractériser des nanoparticules d'or d'une dizaine de nanomètres de diamètre déposées sur un substrat de silicium. Le chercheur est en train de changer la pointe de l'AFM. La qualité de cette pointe conditionne la finesse des détails qui peuvent être observés.
The use of media visible on the CNRS Images Platform can be granted on request. Any reproduction or representation is forbidden without prior authorization from CNRS Images (except for resources under Creative Commons license).
No modification of an image may be made without the prior consent of CNRS Images.
No use of an image for advertising purposes or distribution to a third party may be made without the prior agreement of CNRS Images.
Our work is guided by the way scientists question the world around them and we translate their research into images to help people to understand the world better and to awaken their curiosity and wonderment.
