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Reference
20110001_0213
Système de mesure de la réflectivité infrarouge et visible entre la température ambiante et celle de
Système de mesure de la réflectivité infrarouge et visible entre la température ambiante et celle de l'hélium liquide (4 K). Au premier plan, un réservoir d'hélium liquide est connecté à un cryostat monté sur un interféromètre à transformée de Fourier (au fond) grâce à un tube flexible. Entre les deux, un système de pompage créé un vide d'isolation thermique dans le cryostat. Les chercheurs finalisent la préparation de la mesure en contrôlant le flux d'hélium et de tension de travail du détecteur. L'objectif est de mesurer la conductivité optique en large gamme spectrale (des micro-ondes aux UV) de matériaux supraconducteurs.
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