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20110001_0234
© Benoît RAJAU/CNRS Images

Dispositif de contact d'un échantillon pour mesurer sa résistivité. Il s'agit d'un matériau non supr

Reference

20110001_0234

Production year

2011

Max. size

36.03 x 23.98 cm / 300 dpi

Caption

Dispositif de contact d'un échantillon pour mesurer sa résistivité. Il s'agit d'un matériau non supraconducteur : le bismuth. Il est utilisé pour l'étude des propriétés électroniques fondamentales des solides.

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From the same photo report: Laboratoire de Physique et d'Etude des Matériaux (LPEM)

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