Microscope à force atomique (AFM). On obtient des images représentant la surface de l'échantillon av

Microscope à force atomique (AFM). On obtient des images représentant la surface de l'échantillon avec une résolution de l'ordre de grandeur de l'atome. Grâce à une option permettant de mesurer en temps réel la résistance entre la pointe de l'AFM et la surface, cet appareil est également utilisé pour faire de la nano-lithographie dans des résines ou couches minces d'isolant. Le laboratoire a effectué des nanocontacts de 10 nm de diamètre. Ici, le chercheur contrôle la topographie (écran de gauche) en même temps que la cartographie électrique (écran de droite) de la surface de l'échantillon.