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Positionnement d'échantillons pour la caractérisation structurale de surfaces métalliques par microscopie à effet tunnel dans une chambre ultravide.
© Claude DELHAYE/CNRS Images
Positionnement d'échantillons pour la caractérisation structurale de surfaces métalliques par micros
Reference
19980001_0690
Max. size
29.51 x 19.47 cm / 300 dpi
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