19980001_0690

© Claude DELHAYE/CNRS Images

Référence

19980001_0690

Positionnement d'échantillons pour la caractérisation structurale de surfaces métalliques par micros

Positionnement d'échantillons pour la caractérisation structurale de surfaces métalliques par microscopie à effet tunnel dans une chambre ultravide.

Thématiques scientifiques

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