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Reference
20030001_0992
Cristallites de gallate de zinc (ZnGa2O4) observés par microscopie à force atomique (AFM), en mode i
Cristallites de gallate de zinc (ZnGa2O4) observés par microscopie à force atomique (AFM), en mode intermittent, sur une matrice amorphe des trois éléments. Image (2.5µm x 2.5µm). Z Range (échelle en hauteur d'une image de microscopie à champ proche) = 300nm. Ces recherches portent sur l'étude des matériaux transparents et conducteurs en vue d'applications pour des cellules photoélectriques.
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