20030001_0985
© Cyrile DERANLOT/CNRS Photothèque

Défauts réalisés par faisceau d'ions focalisé (FIB) dans du graphite pyrolitique (HOPG). Ce matériau

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9.67 x 6.1 cm / 300 dpi

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Défauts réalisés par faisceau d'ions focalisé (FIB) dans du graphite pyrolitique (HOPG). Ce matériau se présente sous la forme de feuillets empilés qui sont aisément clivables avec un scotch, ce qui permet d'obtenir facilement une surface plane et propre à l'air. Observation en microscopie à force atomique (AFM). Ces études d'organisation d'agrégats préformés, en phase gazeuse, sur substrats fonctionnalisés par nano FIB ont comme application éventuelle l'enregistrement à haute densité.

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