© Bertrand REBIERE / ICGM / CNRS Images
Référence
20180085_0004
Microlevier et sa pointe vus au microscope électronique à balayage avec un grossissement x 1 500
Microlevier et sa pointe, utilisé en microscopie à force atomique (AFM), vus au microscope électronique à balayage avec un grossissement x 1 500. Le rayon de courbure de la pointe est de quelques nanomètres. La photo est retraitée et colorisée avec des couleurs artificielles.
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