© Bertrand REBIERE / ICGM / CNRS Images
Reference
20180085_0004
Microlevier et sa pointe vus au microscope électronique à balayage avec un grossissement x 1 500
Microlevier et sa pointe, utilisé en microscopie à force atomique (AFM), vus au microscope électronique à balayage avec un grossissement x 1 500. Le rayon de courbure de la pointe est de quelques nanomètres. La photo est retraitée et colorisée avec des couleurs artificielles.
Add to my selection
Terms of use
The use of media visible on the CNRS Images Platform can be granted on request. Any reproduction or representation is forbidden without prior authorization from CNRS Images (except for resources under Creative Commons license).
No modification of an image may be made without the prior consent of CNRS Images.
No use of an image for advertising purposes or distribution to a third party may be made without the prior agreement of CNRS Images.
For more information, please consult our general conditions
