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20170139_0012
© Hubert RAGUET / RDP / ENS de Lyon / INRA / UCBL / CNRS Photothèque

AFM (Microscope à force atomique)

Référence

20170139_0012

Année de production

2017

Taille maximale

50.94 x 34 cm / 300 dpi

Légende

AFM (microscope à force atomique) utilisé sur un sépale d'Arabette des dames, "Arabidopsis thaliana". Ce microscope mesure les forces à l'œuvre entre une pointe et un échantillon. La pointe de silicium, mesurant quelques nanomètres, est logée sur un levier élastique qui se déformera en fonction des forces exercées. La mesure de la déformation est effectuée grâce à un laser qui se réfléchit sur une photodiode qui transforme le signal lumineux en signal électrique. En d'autres termes, la déformation du levier oriente le laser. Ici l'AFM est utilisé sur un sépale d'Arabette des dames, "Arabidopsis thaliana" pour en cartographier la dureté. Ces mesures s'effectuent dans le cadre de l'étude de la morphogénèse, soit le processus biologique qui donne sa forme à un organisme. Ces recherches permettent de comprendre comment les plantes gèrent les contraintes mécaniques générées par leur croissance et comment ces régulations ont été sélectionnées au cours de l'évolution pour produire des fleurs. Il a été également observé que les cellules souches végétales peuvent être plus rigides que les cellules différenciées. Ces méthodes pourraient trouver des applications en agronomie afin de contrôler les caractères morphologiques (taille et forme) des fleurs.

Institut(s)

Délégations(s)

Issues du même reportage : RDP - Reproduction et développement des plantes

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