Année de production
2017
© Cyril FRESILLON / CEMHTI / CNRS Images
20170083_0043
Analyse de la structure cristalline d’échantillons de poudres céramiques par diffraction des rayons X (DRX). La scientifique dépose les poudres céramiques qui vont être analysées sur le passeur d’échantillons du diffractomètre. Le faisceau de rayons X produit par le tube à RX (à gauche) frappent l’échantillon. Son interaction avec les différents atomes du matériau échantillonné est captée par le détecteur (à droite). Le signal collecté est tracé sous forme d’un diffractogramme, courbe dont la position des pics signe l’arrangement des atomes. Cette méthode de caractérisation de la structure des matériaux est essentielle pour valider la recherche de nouvelles phases cristallines.
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2017
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