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20170023_0047
© Cyril FRESILLON / UMPhy CNRS-Thales / CNRS Images

Enceinte de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs

Référence

20170023_0047

Année de production

2017

Taille maximale

41.72 x 27.77 cm / 300 dpi

Légende

Bruno Marcilhac à côté d'une enceinte de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs dits à haute température critique. Ces composants servent pour le traitement du signal hyperfréquence.

Institut(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

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