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20140001_1224
© Cyril FRESILLON/CNRS Photothèque

Analyse surfacique de matériaux polymères par microscopie AFM

Référence

20140001_1224

Année de production

2014

Taille maximale

41.72 x 27.77 cm / 300 dpi

Légende

Dépôt d’un wafer de silicium, recouvert d’un film mince de copolymères à blocs, sur la platine d’un Microscope à force atomique (AFM) installé en salle blanche. Le chercheur va ainsi procéder à une analyse surfacique de ce matériau polymère pour analyser sa nano-structure. La salle blanche permet de travailler dans une atmosphère contrôlée en température, en humidité, en pression et en nombre de particules. La résolution spatiale peut aller de quelques dizaines de micromètres au dixième de nanomètre. Les images obtenues donnent des informations topographiques ou mécaniques sur un matériau pouvant être analysé dans différentes conditions : solide, liquide ou sous vide. Les applications visées concernent l'électronique organique voire la microélectronique via l'auto-organisation de copolymères à blocs. Les nombreuses nano-structurations de ces copolymères peuvent être révélées grâce à cette technique.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

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