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20140001_0251

© Cyril FRESILLON / IJL / CNRS Images

Référence

20140001_0251

Fixation d'un échantillon sur le porte-objet qui sera inséré dans le MET

Fixation d'un échantillon sur le porte-objet qui sera inséré dans un microscope électronique en transmission (MET). Avec un MET les électrons sont accélérés à 200 kV et ils sont susceptibles d'être diffractés par les réseaux cristallins. La diffraction électronique permet l'identification de phases, ainsi que les relations d'orientation entre plusieurs cristaux. L'avantage de cette technique est de pouvoir accéder à de nombreuses informations microstructurales à une échelle nanométrique, en corrélation avec l'image. Par ailleurs, le couplage de la microscopie électronique et de la microanalyse chimique permet de disposer à la fois d'une information diffractionnelle, structurale directe et microchimique.

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