Retour au reportage Retour au reportage
20140001_0249

© Cyril FRESILLON / IJL / CNRS Images

Référence

20140001_0249

Fixation d'une lame mince dans un porte-objet qui sera introduit dans un MET

Fixation d'une lame mince dans un porte-objet qui sera introduit dans un microscope électronique en transmission (MET) pour mener des études de caractérisation structurale par diffraction électronique et d’imagerie haute résolution. Avec un MET les électrons sont accélérés à 200 kV et ils sont susceptibles d'être diffractés par les réseaux cristallins. La diffraction électronique permet l'identification de phases, ainsi que les relations d'orientation entre plusieurs cristaux. L'avantage de cette technique est de pouvoir accéder à de nombreuses informations microstructurales à une échelle nanométrique, en corrélation avec l'image. Par ailleurs, le couplage de la microscopie électronique et de la microanalyse chimique permet de disposer à la fois d'une information diffractionnelle, structurale directe et microchimique.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.