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20130001_1151

© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Référence

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Contrôle de l'alignement d'un échantillon, dans un microscope à effet tunnel en ultravide

Contrôle de l'alignement d'un échantillon, avant la préparation du graphène sur carbure de silicium, dans un microscope à effet tunnel en ultravide. Développé par l'Institut Néel, ce microscope à effet tunnel permet d'analyser les propriétés structurales et électroniques du graphène sur carbure de silicium. Grâce à cette technique, basée sur le balayage d'une pointe métallique au dessus de la surface, la structure cristallographique du graphène est imagée avec une résolution spatiale inférieure au nanomètre. Les propriétés électroniques du graphène, à la même échelle, sont également sondées par spectroscopie tunnel. Ces techniques apportent des informations précieuses concernant le couplage du graphène avec son support, ici le carbure de silicium.

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