Année de production
2012
© Cyril FRESILLON/CNRS Images
20130001_0102
Microscope à force atomique à pointe active, couplé avec un dispositif de mesure de durée de vie de fluorescence d'un émetteur fluorescent. Ce dernier est greffé à l'extrémité de la pointe du microscope à force atomique et est amené à une distance de quelques dizaines de nanomètres de la surface d'un film d'or fractal. Grâce à ce montage, l'émetteur peut être positionné sur l'échantillon avec une grande précision et une caractérisation complète du champ électromagnétique peut être effectuée.
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2012
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