Retour au reportage Retour au reportage
20110001_2097

© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Référence

20110001_2097

Préparation d'échantillons par faisceau d'ions focalisés (FIB). Cet appareil est équipé de deux cano

Préparation d'échantillons par faisceau d'ions focalisés (FIB). Cet appareil est équipé de deux canons : un canon à électrons et un canon à ions Ga (gallium). La source d'électrons permet d'imager la surface de l'échantillon selon le même principe qu'un microscope électronique à balayage conventionnel. Le second canon émet un faisceau d'ions Ga dont il est possible de faire varier l'énergie et l'intensité. Le positionnement précis du faisceau d'ions rend possible la réalisation par érosion d'un motif ayant la forme désirée. C'est ce faisceau d'ions qui permet la préparation de coupes ultraminces dans les échantillons géologiques mais qui peut également servir à un micro-usinage ou à la fonctionnalisation de nano-objets.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : L'Institut de Minéralogie, de Physique des Matériaux et de Cosmochimie (IMPMC)

CNRS Images,

Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.