Année de production
2011
© Cyril FRESILLON/CNRS Images
Référence
20110001_1270
Intérieur de la chambre d'analyse d'un spectromètre ToF-SIMS (spectrométrie de masse d'ions secondai
Intérieur de la chambre d'analyse d'un spectromètre ToF-SIMS (spectrométrie de masse d'ions secondaires à temps de vol). Ce spectromètre est utilisé pour l'analyse de surfaces. Cette chambre sous ultravide permet l'introduction de matériaux solides pour l'analyse des ions secondaires émis lors du bombardement ionique de leur surface.
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