Année de production
2009
© Benoît RAJAU/LPS/CNRS Images
Référence
20090001_0947
Mise en place d'un échantillon dans le microscope à force magnétique sous champ magnétique planaire
Mise en place d'un échantillon dans le microscope à force magnétique sous champ magnétique planaire et orientable, dédié à l'étude des configurations magnétiques de nanostructures et à l'électronique de spin.
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